使用具有自检诊断模式的 A1365 可编程线性霍尔效应传感器 IC 提高系统安全性

使用具有自检诊断模式的 A1365 可编程线性霍尔效应传感器 IC 提高系统安全性

作者:Wade Bussing,应用工程师,
Allegro MicroSystems,LLC

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摘要

本应用说明提供了对 Allegro MicroSystems 的A1365实现自检诊断模式的指南,以验证应用中的系统功能和安全性。要了解有关 Allegro MicroSystems 的 A1365 的更多信息,请参阅 www.wangzuanquan.com 上的器件数据表。

介绍

汽车安全级别的出现刺激了安全要求的增加,使 IC 和传感器安全功能与某些应用中的目标性能规格一样重要。随着安全目标在整个系统设计过程中成倍增加,客户需要可用于诊断系统异常的智能传感器。A1365 的内置自检模式可以让用户深入了解他们的系统。

A1365 的自检模式涵盖整个信号路径,从模拟输出 (VOUT) 和FAULT输出引脚,直到霍尔传感器的连接。请参考图 1 中 A1365 的方框图,其中以绿色突出显示片上测试电压的注入点。

A1365 的自检模式允许用户在任何时候验证模拟信号路径的连通性、静态输出电压的漂移,以及过场故障信号路径的连接性和功能性。通过比较自检模式下测量的电压和各种时序,用户还可以评估任何外部设备的完整性,包括系统 ADC 和过流故障控制设备。自检故障功能简化了 A1365 外部过流故障电路的线端验证,并且无需注入大的满量程
电流。

自测模式旨在揭示霍尔路径中的单点故障,但不测试霍尔传感器本身的灵敏度。

图1:A1365 功能框图
图1:A1365 的功能方框图

启用自检模式

A1365 IC 的所有销售版本均禁用自检功能。但是,使用 Allegro A1365 样品编程器和 ASEK 评估板可以轻松实现测试模式。A1365 样品编程器可在 Allegro 的软件门户网站https://registration.allegromicro.com上获得。有关获取 ASEK 评估套件的信息,请联系您的销售代表。

要在 A1365 上启用自检模式,请按下图 2 所示 A1365 样品编程器上的“开机”按钮[1],打开设备电源。通过使用“更新”按钮[2]验证 VCC
ICC和输出值是否按预期读取,确认设备正常运行。

图2:A1365 样品编程器的电源面板
图2:A1365 样品编程器的电源面板

编程器上的“存储器”面板显示 A1365 器件上的所有可用寄存器,以及每个寄存器功能的简要说明[3]。有关更多信息,请参阅图 3。
图3:A1365 样品编程器的存储器面板
图3:
A1365 样品编程器
的存储器面板

选择“全选”按钮[4],,然后选择“读取已选定”按钮[5],它将读回器件存储器内容并使用返回的数据填充代码和值列。在对设备的存储器进行任何更改之前,最佳做法是保存 EEPROM 内容的本地副本以便恢复。选择“保存”按钮[6]以生成 .csv 或 .txt 文件以便妥善保管。

要启用自检模式,请参见图 4。向下滚动到 “ST_DIS”字段(自检禁用)[7],选择“取消全选”按钮 [8],然后使用复选框,只选择“ST_DIS”。通过在单元格中键入“0”或在GUI上选择“归零已选”按钮[9],将“ST_DIS”代码列设置为“0”。准备就绪后,按“写入已选”按钮[10],将新值写入\ EEPROM。最佳做法是读回相同的寄存器以验证更改。选择“读取已选”[11]]确认“ST_DIS”位已被清除。现在启用自检模式。

图4:A1365 样品编程器的自检启用
图4:
A1365 样品编程器
的自检启用

启用自检模式

启用后,将 A1365 的FAULT引脚的电平降低来启动自检模式。设备不会立即进入自检模式,FAULT引脚必须保持低电平的时间超过“自检开始时间”才能进入自检诊断模式。自检开始时间是可编程设置,在编程字段“ST_START_TIME”中指定。有十六个代码对应于十二个离散的开始时间值。

表 1 列出了自检开始时间的可用代码及其相应的时间延迟。
图
自检开始时间定义为FAULT引脚电压 (VFAULT) 低于自检阈值电压 (VSTTH),直到传感器进入自检感应模式。传感器通过将模拟输出驱动至自检低电压 (VSTL),进入自检感应模式。如果在自检开始时间期间的任何时刻,传感器检测到磁输入超过设定的故障阈值,则自检定时器将复位。

图5中的曲线显示了在 A1365 上,对所有自检开始时间代码,FAULT管脚电平降低,VOUT达到 VSTL的时间。

图5:所有代码的自检开始时间
图5:所有代码的自检开始时间

自检故障请求时间

自检故障请求模式允许用户验证 A1365 的用户编程故障阈值。在FAULT引脚释放的时间超过自检故障请求时间(ST_FR_TIME)后,器件将进入自检故障模式。

引脚释放后,但在自检故障请求时间到期之前,输出被驱动为自检高电压 (V某事)。当器件进入自检故障请求模式时,
器件的输出被驱动为饱和 (VSAT(HIGH))。

表 2 列出了自检故障请求时间(ST_FR_TIME)的可用代码及其相应的延迟。
图
在自检故障模式下,A1365 将 VOUT驱动为饱和状态,包括 VSAT(H)和 VSAT(L)。当 VOUT超过用户编程的故障阈值 (FLT_THRESH) 时,传感器的 FAULT 引脚将置位以指示故障状态。请注意,如果启用了钳位,此模式会暂时禁用钳位。

自检故障脉冲宽度时间

A1365 将驱动并保持 VOUT至每个测试电压一段时间,该时间由自检故障脉冲宽度时间 (ST_FPW_TIME) 定义。表 3 列出了自检故障脉冲宽度时间及其相应脉冲宽度时间的可用代码。

图

完整的自检模式序列

整个自检模式序列如图 6 所示。自检模式期间的施加磁场必须为零。

图 6:自检模式序列
图 6:自检模式序列
对于图 6 中的情况,ST_START_TIME = 50 ms、ST_FR_TIME = 10 ms 和 ST_FPW_TIME = 10 ms。自检和磁性故障设置如图 7 所示。
图7:图 6 中序列的自检和故障设置
图7:图 6 中序列的
自检和故障设置

自检序列在下面的列表中描述。每个步骤对应于图 7 中绘图的时间点。

  1. A1365 的FAULT引脚从外部拉至低电平以启动自检模式。此时 A1365 仍能正确响应磁场。
  2. 器件在 ST_START_ TIME 后进入自检感应模式,并将 VOUT驱动至 VSTL
  3. VOUT保持在 VSTL,直到FAULT引脚被释放。
  4. 在自检故障请求时间 ST_FR_TIME 的持续时间内,VOUT被驱动至 V某事
  5. 器件进入自检故障请求模式,在 ST_FPW_TIME 器件,VOUT被驱动至 VSAT(H),并且FAULT引脚被置位。
  6. 在 ST_FPW_TIME (10 ms),VOUT被驱动至 QVO,并且FAULT引脚复位。
  7. 在 ST_FPW_TIME (10 ms),VOUT被驱动至 VSAT(L),并且FAULT引脚被置位。
  8. 自检序列完成后,器件返回正常操作(任务模式)。

应用案例

A1365 的自检模式可用于验证 A1365 期间上的严重异常和单点故障。此功能还可用于确认其他系统器件的完整性和时序,包括 ADC 和故障控制电路。

图8 中的应用原理图显示了这样一个系统。A1365 安装在叠片铁芯的间隙中,用于检测导体中电流产生的磁场。模拟输出 VOUT 连接到 ADC,而FAULT引脚连接到微控制器上的通用 I/O 引脚。假设在发生过流情况时, I/O 连接的FAULT引脚发出系统中断信号。该中断通过断开导体中的电流来提示微控制器将系统置于安全状态。

图8:采用 A1365、ADC 和过流故障控制的应用原理图
图8:采用 A1365、ADC 和过流故障控制的应用原理图

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本文中所含的信息不构成 Allegro 就本文主题而对客户做出的任何表示、担保、确保、保证或诱导。本文所提供的信息并不保证基于此信息的流程的可靠性,亦不保证 Allegro 已探究了所有可能出现的故障模式。客户负责对最终产品进行充分的验证测试,以确保该产品是可靠的,并且符合所有设计要求。